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이러닝 · 반도체테스트공학
반도체테스트공학
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반도체테스트공학 과정정보
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수강신청일로부터
90일
강의구성
15차시
수강료
무료
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과정소개
강의목차
반도체테스트공학
한국폴리텍대학 대전캠퍼스 전기전자제어과
이 형 우 교수
강의목차
차시
강의명
1차시
1장. 반도체 IC의 제조 및 테스트
2차시
2장. IC 테스트의 개요를 학습한다.
3차시
3장. 테스트 공정, 디지털 논리회로, 레이아웃, 웨이퍼 테스트
4차시
4장. 집적회로 및 분류
5차시
5장. 절대극한값과 추천작동조건 및 AC, DC 특성
6차시
6장. 디지털IC 테스트개념과 테스트 벡터
7차시
7장. 입력데이터, 출력데이터, 전원핀의 연결
8차시
8장. 기능테스트의 종류와 이해
9차시
9장. 정상상태 테스트
10차시
10장. DC 파라메터 테스트와 OS 테스트
11차시
11장. 누설전류 테스트, 문턱전압테스트, 출력전압/전류 테스트
12차시
12장. 출력단락전류 / 전원소비전류 / AC파라미터테스트
13차시
13장. 측정시간의 이해
14차시
14장. IC 특성분석방법과 테스트 최적화
15차시
15장. 메모리소자, SRAM, DRAM의 테스트 고려사항