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반도체테스트공학

  1. 반도체테스트공학

반도체테스트공학
한국폴리텍대학 대전캠퍼스 전기전자제어과
이 형 우 교수

강의목차
차시 강의명
1차시 1장. 반도체 IC의 제조 및 테스트
2차시 2장. IC 테스트의 개요를 학습한다.
3차시 3장. 테스트 공정, 디지털 논리회로, 레이아웃, 웨이퍼 테스트
4차시 4장. 집적회로 및 분류
5차시 5장. 절대극한값과 추천작동조건 및 AC, DC 특성
6차시 6장. 디지털IC 테스트개념과 테스트 벡터
7차시 7장. 입력데이터, 출력데이터, 전원핀의 연결
8차시 8장. 기능테스트의 종류와 이해
9차시 9장. 정상상태 테스트
10차시 10장. DC 파라메터 테스트와 OS 테스트
11차시 11장. 누설전류 테스트, 문턱전압테스트, 출력전압/전류 테스트
12차시 12장. 출력단락전류 / 전원소비전류 / AC파라미터테스트
13차시 13장. 측정시간의 이해
14차시 14장. IC 특성분석방법과 테스트 최적화
15차시 15장. 메모리소자, SRAM, DRAM의 테스트 고려사항